近紅外光譜分析儀(Near Infrared Spectroscopy Analyzer,NIR光譜儀)是一種常用的非破壞性分析儀器,用于對物質(zhì)進(jìn)行近紅外光譜分析。下面對近紅外光譜分析儀進(jìn)行簡單介紹。
近紅外光譜分析儀工作原理:
近紅外光譜分析基于樣品在近紅外波段(約700-2500 nm)吸收和散射特性來獲得相關(guān)信息。
儀器通過發(fā)射一束寬帶的近紅外輻射,并測量經(jīng)過樣品后返回的反射或透射信號。
比較待測物質(zhì)與參考標(biāo)準(zhǔn)之間的差異,利用數(shù)學(xué)算法建立模型,并根據(jù)模型預(yù)測待測樣品中的成分、含量或其他屬性。
近紅外光譜分析儀特點和優(yōu)勢:
1、非破壞性:不需要對樣品進(jìn)行處理或破壞,可直接對固體、液體及氣體等不同形態(tài)的樣品進(jìn)行檢測。
2、快速:可以在幾秒鐘到幾分鐘內(nèi)完成一次掃描和數(shù)據(jù)處理,提供即時結(jié)果。
3、多參數(shù)檢測:可以同時檢測多個組分或?qū)傩?,在藥品、食品、化工等行業(yè)有廣泛應(yīng)用。
4、無需樣品制備:不需要對樣品進(jìn)行處理、稀釋或前處理,降低了操作的復(fù)雜性和時間成本。
近紅外光譜分析儀使用操作規(guī)程:
1、根據(jù)使用說明書正確安裝儀器并連接所需電源和數(shù)據(jù)傳輸線。
2、打開儀器電源,并根據(jù)實驗要求選擇合適的波長范圍及參數(shù)設(shè)置。
3、準(zhǔn)備好待測物質(zhì)樣品,將其放置在樣品池或傳感區(qū)域中。
4、啟動測量程序,在一定時間內(nèi)記錄下讀數(shù)穩(wěn)定后的光強(qiáng)值或吸收譜線。
5、根據(jù)需要進(jìn)行多次測量以獲得平均值,并記錄相關(guān)數(shù)據(jù)。
近紅外光譜分析儀是一種常用的非破壞性分析儀器,通過近紅外光譜技術(shù)獲取物質(zhì)的吸收和散射信息來預(yù)測其組成、含量或其他屬性,了解其工作原理、使用操作規(guī)程以及優(yōu)勢可以幫助用戶正確使用和解讀檢測結(jié)果。
項目 | 內(nèi)容 |
儀器型號 | S430 |
測量方式 | 透射樣品池 |
探測器 | 日本濱松制冷型銦鎵砷(InGaAs) |
光譜帶寬nm | 8 |
波長范圍nm | 900~2500 |
波長準(zhǔn)確度nm | ±0.2 |
波長重復(fù)性nm | ≤0.05 |
雜散光% | ≤0.1 |
吸光度噪聲Abs | ≤0.0005 |
分析時間 | 1分鐘(可調(diào)節(jié)) |
數(shù)據(jù)傳輸方式 | USB2.0 |
定標(biāo)技術(shù) | MPLS改進(jìn)最小二乘法回歸定標(biāo)技術(shù) |
DPLS光譜鑒定及定性分析技術(shù) |
客戶熱線:400-638-1718 (周一至周五8:30-17:00)技術(shù)支持:18121024458 傳真:021-54573837
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